仪器简介：

型号：MD picts pro

制造厂家：Freiberg Instruments

购置时间：2023年

主要规格及技术指标

具有稳态（MDP）瞬态（μPCD）两种测量方式；

寿命检测偏差<1%；

少子寿命测量范围： 20 ns至120 ms；

扫描分辨率：10 μm ~ 5 mm；

温度范围：83K-800 K

主要功能及特色

可实现对各类宽/窄禁带半导体的非平衡载流子寿命、杂质、缺陷能级，以及杂质、缺陷能级的激活能和俘获截面的无损、高精度、快速的定量化分析及表征；适用于CdTe、InP、ZnS、HgCdT、GaAs等窄带隙半导体材料，以及SiC、GaN等第三代半导体材料的测试。

主要附件及配置

660 nm光纤耦合激光器，光斑尺寸5.8 μm，最大功率35 mW

852 nm光纤耦合激光器，光斑尺寸8.8 μm，最大功率15 mW

1550 nm光纤耦合激光器，光斑尺寸6.3 μm最大功率10 mW

紫外激光波长354.11nm，光斑尺寸≤1 mm，功率范围500 mW ~ 7000 mW

高温台：300-800K

低温台：83-350K

文章标注要求

Freiberg Instruments MD picts pro.

计费信息

按使用时长收费。